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尼克斯膜厚仪
2019-10-16 18:16:00 来源: 作者: 【 】 浏览:300
  尼克斯膜厚仪是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值·
  供应带校准证书尼克斯双功能涂镀层测厚仪,提供第三方机构校准证书,正品现货供应。欢迎来电咨询。德国尼克斯双功能涂层测厚仪是一款测量范围达到5000μm的大量程涂层厚度测试仪器。该仪器能够储存3900个测量值,999个数据组,并且可通过RS232接口进行现场打印(外接迷你打印机)或者上传电脑。
  尼克斯膜厚仪的膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
  膜厚仪一般是测氧化膜层厚度,常见的铝基,铜基氧化,测量时候用涂层测厚仪选择N(非磁性)探头,这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
  涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理,配F合N探头,或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米,但是普通的涂层测厚仪误差比较大,需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层,尼克斯膜厚仪
  更多尼克斯膜厚仪信息访问http://www.chem17.com/st347593/erlist_1535282.html
  http://www.q-nix.net/SonList-1535282.html
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Tags:尼克斯膜厚仪 责任编辑:mthl11
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